NEC、先端LSIの消費電力を最大50％削減できる技術を開発

日本電気（NEC)は2008年６月27日、大規模集積回路（LSI）の微細化に伴い深刻な問題となっているLSIの消費電力を削減するための基本技術として、LSI温度分布の「見える化」技術を開発したと発表した。本技術は、同社の最新スーパーコンピューター「SX-9」で動作実証済み。

LSI 内で局所的に高温になると、トランジスタの性能劣化や配線の断絶などの信頼性低下、さらにリーク電流の増加などが生じるため、高温箇所をなくす温度管理が、信頼性維持や消費電力削減のために重要である。

新技術では、従来LSI 内に数個しか配置できなかった温度センサを、面積比で10分の1に小型化したことにより、数十個配置できるようになり、LSI内の温度分布を高精度かつリアルタイムに観測する「見える化」を実現した。

本技術により、LSI内温度分布を常時監視することで、高温箇所を正確に把握し、適切な温度管理を行うことが可能になる。本技術を活用すれば、今後主流となる先端LSIの消費電力を20％から最大50％削減できるとしている。同社は、今回の成果を６月に米国ハワイ州で開催された学会「VLSI回路シンポジウム2008」において発表した。

LSIの消費電力を最大50％削減する温度分布の「見える化」技術を開発
http://www.nec.co.jp/press/ja/0806/2701.html

登録日時: 2008/11/19 09:52:00 AM